Twentieth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (IEEE Cat. No.04CH37545)

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Twentieth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (IEEE Cat. No.04CH37545) - 最新文献

Pub Date : 2005-12-05 DOI: 10.1109/TCAPT.2005.859758 K. Dhinsa, C. Bailey, K. Pericleous

Pub Date : 2004-03-11 DOI: 10.1109/STHERM.2004.1291297 P. Zhou, J. Hom, G. Upadhya, K. Goodson, M. Munch

Pub Date : 2004-03-11 DOI: 10.1109/STHERM.2004.1291327 V. Wuttijumnong, T. Nguyen, M. Mochizuki, K. Mashiko, Y. Saito

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