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1998 International Semiconductor Conference. CAS'98 Proceedings (Cat. No.98TH8351) - 最新文献
Dependence of SiC/SiO/sub 2/ interface quality on substrate and dopant type
Pub Date : 1998-10-06 DOI: 10.1109/SMICND.1998.732392 S. Berverich, P. Godignon, J. Millán, M. Locatelli, G. Brezeanu, M. Badila, A. Lebedev, H. HartnagelInfluence of multilayer coating peculiarities on efficiency of surface plasmon resonance photodetector
Pub Date : 1998-10-06 DOI: 10.1109/SMICND.1998.733805 N. Dmitruk, O.I. Mayeva, S. Mamykin, O. Fursenko, O. YastrubchakEffect of composition on refractive index dispersion in Ge-Sb-S thin films
Pub Date : 1998-10-06 DOI: 10.1109/SMICND.1998.732296 V. Pamukchieva, A. Szekeres, P. Sharlandjiev, Z. Alexia, M. Gartner
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