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Proceedings of the 6th International Symposium on Power Semiconductor Devices and Ics - 最新文献
Analysis of GTO failure mode during DC voltage blocking
Pub Date : 1994-05-31 DOI: 10.1109/ISPSD.1994.583727 H. Matsuda, T. Fujiwara, M. Hiyoshi, K. Nishitani, A. Kuwako, T. IkeharaHigh voltage trench drain LDMOS-FET using SOI wafer
Pub Date : 1994-05-31 DOI: 10.1109/ISPSD.1994.583700 Y. Baba, S. Yanagiya, Y. Koshino, Y. UdoThe inversion layer emitter thyristor - a novel power device concept
Pub Date : 1994-05-31 DOI: 10.1109/ISPSD.1994.583751 F. Udrea, G. Amaratunga
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