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1992 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers - 最新文献
A self-learning neural-network LSI using neuron MOSFETs
Pub Date : 1992-06-02 DOI: 10.1109/VLSIT.1992.200660 T. Shibata, T. OhmiInfluence of stress-induced void formation on electromigration endurance in quarter-micron aluminum interconnects
Pub Date : 1992-06-02 DOI: 10.1109/VLSIT.1992.200652 N. Matsunaga, H. Shibata, K. HashimotoA buried-plate trench cell for a 64-Mb DRAM
Pub Date : 1992-06-02 DOI: 10.1109/VLSIT.1992.200620 D. Kenney, P. Parries, P. Pan, W. Tonti, W. Cote, S. Dash, P. Lorenz, W. Arden, R. Mohler, S. Roehl, A. Bryant, W. Haensch, B. Hoffmann, M. Levy, A. Yu, C. Zeller
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