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Proceedings of Semiconducting and Semi-Insulating Materials Conference - 最新文献
Defect characterization in plastically deformed gallium arsenide
Pub Date : 1996-12-31 DOI: 10.1109/SIM.1996.571100 H. Leipner, C. Hubner, O. Storbeck, A. Polity, R. Krause-RehbergIdentification and structure of the 0.95 eV photoluminescence centers in n-type GaAs
Pub Date : 1996-12-31 DOI: 10.1109/SIM.1996.571103 M. Reshchikov, A. Gutkin, V. SedovNanocrystalline SiGe films: structure and properties
Pub Date : 1996-12-31 DOI: 10.1109/SIM.1996.570940 F. Edelman, Y. Komem, M. Stolzer, P. Werner, R. Butz
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