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2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) - 最新文献
Architecting a common-source-line array for bipolar non-volatile memory devices
Pub Date : 2012-03-01 DOI: 10.1109/date.2012.6176594 Bo Zhao, Jun Yang, Youtao Zhang, Yiran Chen, Hai LiExtending the lifetime of NAND flash memory by salvaging bad blocks
Pub Date : 2012-03-01 DOI: 10.1109/date.2012.6176473 Chundong Wang, Weng-Fai Wong
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