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Proceedings of International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI - 最新文献
Hierarchical extraction of critical area for shorts in very large ICs
Pub Date : 1995-11-13 DOI: 10.1109/DFTVS.1995.476933 P. Nag, Wojciech MalyUtilizing spares in multichip modules for the dual function of fault coverage and fault diagnosis
Pub Date : 1995-11-13 DOI: 10.1109/DFTVS.1995.476957 S. Goldberg, S. UpadhyayaHierarchical critical area extraction with the EYE tool
Pub Date : 1995-11-13 DOI: 10.1109/DFTVS.1995.476934 G. A. Allan, A. Walton
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