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2012 IEEE International Test Conference - 最新文献
Adaptive test selection for post-silicon timing validation: A data mining approach
Pub Date : 2012-11-05 DOI: 10.1109/TEST.2012.6401540 Ming Gao, Peter Lisherness, K. ChengRadic: A standard-cell-based sensor for on-chip aging and flip-flop metastability measurements
Pub Date : 2012-11-05 DOI: 10.1109/TEST.2012.6401593 Xiaoxiao Wang, Dat Tran, S. George, L. Winemberg, N. Ahmed, Steve Palosh, Allan Dobin, M. TehranipoorThe DFT challenges and solutions for the ARM® Cortex™-A15 Microprocessor
Pub Date : 2012-11-05 DOI: 10.1109/TEST.2012.6401534 T. McLaurin, F. Frederick, R. Slobodnik
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