31st European Solid-State Device Research Conference

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31st European Solid-State Device Research Conference - 最新文献

Design of 50nm MOSFETs with Biased Side-Gates

Pub Date : 2001-09-11 DOI: 10.1109/ESSDERC.2001.195257 B. Choi, W. Choi, Y. Choi, J. Lee, Byung-Gook Park

Junction leakage in advanced CMOS technologies

Pub Date : 2001-09-11 DOI: 10.1109/ESSDERC.2001.195229 C. Dachs, R. Surdeanu, D. Guyot, A. Parlangeli, Y. Ponomarev, P. Stolk

Double-Gate MOSFETs: Is Gate Alignment Mandatory?

Pub Date : 2001-09-11 DOI: 10.1109/ESSDERC.2001.195252 F. Allibert, A. Zaslavsky, J. Pretet, S. Cristoloveanu
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