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2007 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - 最新文献
Impact Induced Metal-Crush Failures
Pub Date : 2007-07-11 DOI: 10.1109/IPFA.2007.4378086 I. De Wolf, F. Duflos, B. Vandevelde, P. Vercruysse, D. VanderstraetenElectrothermal Transport in Carbon Nanostructures
Pub Date : 2007-07-11 DOI: 10.1149/1.3203987 Q. Ngo, T. Yamada, K. Gleason, M. Suzuki, H. Kitsuki, A. Cassell, C. YangReliability- and Process-Variation Aware Design of VLSI Circuits
Pub Date : 2007-07-11 DOI: 10.1109/IPFA.2007.4378050 M. Alam, K. Kang, B. Paul, K. Roy
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