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2003 IEEE International Conference on SOI - 最新文献
Optimizing the salicide thickness for improving 130 nm PD SOI performances
Pub Date : 2003-11-03 DOI: 10.1109/SOI.2003.1242903 S. Haendler, R. Gwoziecki, C. Tabone, H. Brut, C. RaynaudCorner effect in multiple-gate SOI MOSFETs
Pub Date : 2003-11-03 DOI: 10.1109/SOI.2003.1242919 W. Xiong, J. W. Park, J. ColingePotential of SOI intrinsic MOSFETs for ring VCO design
Pub Date : 2003-11-03 DOI: 10.1109/SOI.2003.1242880 D. Levacq, L. Vancaillie, D. Flandre
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