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2006 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT'06) - 最新文献
Future Prospective of Programmable Logic Non-volatile Device
Pub Date : 2006-08-02 DOI: 10.1109/MTDT.2006.16 C. HsuNew on-Chip DFT and ATE Features for Efficient Embedded Memory Test
Pub Date : 2006-08-02 DOI: 10.1109/MTDT.2006.20 P. MuhmenthalerFlexiVia ROM Compiler Programmable on Different Via Layers Based on Top Metal Assignment
Pub Date : 2006-08-02 DOI: 10.1109/MTDT.2006.14 D. Kwai, Yung-Fa Chou, Meng-Fan Chang, Su-Meng Yang, Ding-Sheng Chen, M. Hsu, Yu-Zhen Liao, S. Lin, Yu-Ling Sung, Chia-Hsin Lee, Hsin-Kun Hsu
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