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18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) - 最新文献
Degradation model of LED based on accelerated life test
Pub Date : 2011-07-04 DOI: 10.1109/IPFA.2011.5992771 J. W. Jang, Seung Yoon Choi, J. SonFailure analysis of semiconductor device using Nano Electro-static field Probe Sensor (NEPS)
Pub Date : 2011-07-04 DOI: 10.1109/IPFA.2011.5992742 Seigo Ito, K. Takiguchi, Hiroko Sodeyama, T. MatsumotoThe properties comparison between Au and Cu wires bond in DRAM component
Pub Date : 2011-07-04 DOI: 10.1109/IPFA.2011.5992744 Yi Heang Chen, M. Hsiao, C. Tseng
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