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2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium - 最新文献
Wire bonding tip study for extremely ESD sensitive devices
Pub Date : 2004-09-01 DOI: 10.1109/EOSESD.2004.5272641 R. Money, C. Coureau, W. Boone, A. WallashFrom the ESD robustness of products to the system ESD robustness
Pub Date : 2004-09-01 DOI: 10.1109/EOSESD.2004.5272634 W. Stadler, S. Bargstadt-Franke, T. Brodbeck, R. Gaertner, M. Goroll, H. Gosner, C. JensenEngineering single NMOS and PMOS output buffers for maximum failure voltage in advanced CMOS technologies
Pub Date : 2004-09-01 DOI: 10.1109/EOSESD.2004.5272600 M. Khazhinsky, J. Miller, M. Stockinger, J. Weldon
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