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2018 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - 最新文献
Efficient Non-Binary Hamming Codes for Limited Magnitude Errors in MLC PCMs
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/DFT.2018.8602848 Abhishek Das, N. ToubaHybrid On-Line Self-Test Strategy for Dual-Core Lockstep Processors
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/DFT.2018.8602982 A. Floridia, E. SánchezA Placement-Aware Soft Error Rate Estimation of Combinational Circuits for Multiple Transient Faults in CMOS Technology
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/DFT.2018.8602855 G. Paliaroutis, Pelopidas Tsoumanis, N. Evmorfopoulos, G. Dimitriou, G. Stamoulis
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