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1992 International Technical Digest on Electron Devices Meeting - 最新文献
New write/erase operation technology for flash EEPROM cells to improve the read disturb characteristics
Pub Date : 1997-10-25 DOI: 10.1109/IEDM.1992.307433 T. Endoh, H. Iizuka, S. Aritome, R. Shirota, F. MasuokaA high brightness electron beam produced by a ferroelectric cathode
Pub Date : 1995-03-06 DOI: 10.1063/1.113855 George Kirkman, B. Jiang, Nicholas ReinhardtA two-dimensional analysis of hot-carrier photoemission from LOCOS- and trench-isolated MOSFETs
Pub Date : 1993-11-25 DOI: 10.1109/IEDM.1992.307416 T. Ohzone, H. Iwata, Y. Uraoka, S. Odanaka
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