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2017 IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM) - 最新文献
Transport properties in silicon nanowire transistors with atomically flat interfaces
Pub Date : 2017-06-15 DOI: 10.1109/EDTM.2017.7947561 F. Liu, M. Husain, Z. Li, M. Sotto, D. Burt, J. Fletcher, M. Kataoka, Y. Tsuchiya, S. SaitoAccurate mapping of oxide traps in highly-stable black phosphorus FETs
Pub Date : 2017-06-13 DOI: 10.1109/EDTM.2017.7947532 Y. Illarionov, G. Rzepa, M. Waltl, T. Knobloch, J. Kim, D. Akinwande, T. Grasser
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