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2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop - 最新文献
Radiation Test of 8 Bit Microcontrollers ATmega128 & AT90CAN128
Pub Date : 2010-07-20 DOI: 10.1109/REDW.2010.5619504 A. Schuttauf, S. Rakers, C. DanielRadiation Hardness Characterization of a 130nm ASIC Library Technology
Pub Date : 2010-07-20 DOI: 10.1109/REDW.2010.5619510 Radu Dumitru, C. Hafer, Tzu-Wen Wu, R. Rominger, H. Gardner, P. Milliken, Kevin Bruno, T. FarrisSingle Event and Low Dose-Rate TID Effects in the DS16F95 RS-485 Transceiver
Pub Date : 2010-07-20 DOI: 10.1109/REDW.2010.5619503 A. Kelly, P. Fleming, Ronald D. Brown, Frankie Wong
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