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Proceedings of 1994 IEEE International Reliability Physics Symposium - 最新文献
Injection-enhanced defect reactions in III-V light emitting diodes
Pub Date : 1994-04-11 DOI: 10.1109/RELPHY.1994.307800 T.V. Torchinskaya, A. RybakElectromigration reliability improvement of W-plug vias by titanium layering
Pub Date : 1994-04-11 DOI: 10.1109/RELPHY.1994.307840 C. Graas, H. A. Le, J. McPherson, R. HavemanniProbe-d: a hot-carrier and oxide reliability simulator
Pub Date : 1994-04-11 DOI: 10.1109/RELPHY.1994.307824 Ping-Chung Li, G. Stamoulis, I. Hajj
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