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2022 4th International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS) - 最新文献
Abnormalities Classification in WCE Images Using Pretrained Deep Learning Networks
Pub Date : 2022-10-12 DOI: 10.1109/PAIS56586.2022.9946892 Dallel Bouyaya, S. BenierbahMorphological Operations and Artificial Neural Networks for Multi-scale colored texture classification
Pub Date : 2022-10-12 DOI: 10.1109/PAIS56586.2022.9946877 Belal Khaldi, Yacine Khaldi, Hanane Azzaoui, Oussama Aiadi, M. L. KherfiInternet of Things (IoT): Architecture, Applications, and Security Challenges
Pub Date : 2022-10-12 DOI: 10.1109/PAIS56586.2022.9946918 Rabah Kenaza, Ameur Khemane, H. Bendjenna, A. Meraoumia, Laimeche Lakhdar
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