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2007 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering - 最新文献
Manufacturers Laboratories, - Possibilities in CB Scheme, NRTL, GS Marking etc.
Pub Date : 2007-11-05 DOI: 10.1109/PSES.2007.4378476 W. KreinbergApplication of EMC Testing to Chip Level SOC (System on a CIp)
Pub Date : 2007-11-05 DOI: 10.1109/PSES.2007.4378480 D. PetryFailures of Electrical/Electronic Components: Selected Case Studies
Pub Date : 2007-11-05 DOI: 10.1109/PSES.2007.4378474 A. Arora, N. Medora, J. Swart
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