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IEEE EUROCON 2009 - 最新文献
Enlarged sample holder for optical AFM imaging: Millimeter scanning with high resolution
Pub Date : 2010-07-18 DOI: 10.1109/SENSORDEVICES.2010.42 A. Sinno, P. Ruaux, L. Chassagne, S. Topçu, Y. Alalyli, G. Lerondel, S. Blaize, A. Bruyant, P. RoyerNegative effects of electromagnetic field in induction systems
Pub Date : 2009-07-21 DOI: 10.1109/EURCON.2009.5167886 V. BukaninEuropean FP7 project ICPCNanoNet facilitates EU - RU networking in nano area
Pub Date : 2009-07-21 DOI: 10.1109/EURCON.2009.5167798 A. Ivanov, V. Luchinin, M. Morrison
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