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2009 73rd ARFTG Microwave Measurement Conference - 最新文献
Pulsed multi-tone measurements for time domain load pull characterizations of power transistors
Pub Date : 2009-06-12 DOI: 10.1109/ARFTG.2009.5278072 F. de Groote, P. Roblin, Y. Ko, Chieh-Kai Yang, S. Doo, M. Bossche, J. TeyssierNon-linear effects and the use of network analyzer time domain
Pub Date : 2009-06-12 DOI: 10.1109/ARFTG.2009.5278075 J. MartensSecond-order error correction of a calibrated two-port vector network analyzer
Pub Date : 2009-06-12 DOI: 10.1109/ARFTG.2009.5278080 R. Judaschke, G. Wubbeler, C. Elster
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