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2020 IEEE International Test Conference (ITC) - 最新文献
Methods for Susceptibility Analysis of Logic Gates in the Presence of Single Event Transients
Pub Date : 2020-11-01 DOI: 10.1109/ITC44778.2020.9325252 R. Schvittz, P. Butzen, L. RosaHardware IP Protection Using Logic Encryption and Watermarking
Pub Date : 2020-11-01 DOI: 10.1109/ITC44778.2020.9325223 R. Karmakar, S. ChattopadhyayRapid PLL Monitoring By A Novel min-MAX Time-to-Digital Converter
Pub Date : 2020-11-01 DOI: 10.1109/ITC44778.2020.9325217 Wei-Hao Chen, Chu-Chun Hsu, Shi-Yu Huang
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