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2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS) - 最新文献
Influence of temperature on dynamic fault behavior due to resistive defects in FinFET-based SRAMs
Pub Date : 2018-03-12 DOI: 10.1109/LATW.2018.8349697 G. Medeiros, E. Brum, L. Poehls, T. Copetti, T. BalenRTOS for mixed criticality applications deployed on NoC-based COTS MPSoC
Pub Date : 2018-03-12 DOI: 10.1109/LATW.2018.8347239 Stefano Esposito, Serhiy Avramenko, M. ViolanteProbability aware fault-injection approach for SER estimation
Pub Date : 2018-03-12 DOI: 10.1109/LATW.2018.8349692 Fábio B. Armelin, L. Naviner, R. d'Amore
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