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2010 IEEE International SOI Conference (SOI) - 最新文献
High-frequency characterization of intrinsic FinFET channel
Pub Date : 2010-11-18 DOI: 10.1109/SOI.2010.5641064 H. Sakai, S. O'Uchi, T. Matsukawa, K. Endo, Y. Liu, T. Tsukada, Y. Ishikawa, T. Nakagawa, T. Sekigawa, H. Koike, K. Sakamoto, M. Masahara, H. IshikuroNon-linear analysis of n-type Schottky-Barrier MOSFETs
Pub Date : 2010-11-18 DOI: 10.1109/SOI.2010.5641391 J. Tinoco, C. Urban, M. Emam, S. Mantl, Q. Zhao, J. RaskinPhotonic integrated circuits in silicon-on-insulator
Pub Date : 2010-11-18 DOI: 10.1109/SOI.2010.5641404 W. Bogaerts, S. Selvaraja, P. Dumon, P. Absil, D. van Thourhout, R. Baets
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