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The Third Annual Atlantic Test Workshop - 最新文献
Integration Of Comprehensive Testing In Microelectronics Curriculum
Pub Date : 2002-08-06 DOI: 10.1109/ATW.1994.747839 K. Prasad, A. GoelThe Register Optimization Step In A Self-testing High-level Synthesis Tool.
Pub Date : 2002-08-06 DOI: 10.1109/ATW.1994.747845 B. Grimal, E. MartinDesigning For Space Applications Usinlg The SET Concept
Pub Date : 2002-08-06 DOI: 10.1109/ATW.1994.747836 K. J. Hein, A. Rucinski
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