查看最新文献
订阅
分享
249发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
The Third Annual Atlantic Test Workshop - 最新文献
Integration Of Comprehensive Testing In Microelectronics Curriculum
Pub Date : 2002-08-06 DOI: 10.1109/ATW.1994.747839 K. Prasad, A. GoelThe Register Optimization Step In A Self-testing High-level Synthesis Tool.
Pub Date : 2002-08-06 DOI: 10.1109/ATW.1994.747845 B. Grimal, E. MartinDesigning For Space Applications Usinlg The SET Concept
Pub Date : 2002-08-06 DOI: 10.1109/ATW.1994.747836 K. J. Hein, A. Rucinski
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
