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Proceedings of 5th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - 最新文献
Analysis of HBM and MM ESD failures in nMOS devices
Pub Date : 1995-11-27 DOI: 10.1109/IPFA.1995.487606 M. Beh, C. Kang, M. Natarajan, M. RadhakrishnanMonitoring partially-cured epoxy adhesives in disk-drive sub-assembly by thermal analysis (TA) techniques
Pub Date : 1995-11-27 DOI: 10.1109/IPFA.1995.487620 S. Chew, A. SimDesign for and the control of the channel and 1/f noise in GaAs MESFET's
Pub Date : 1995-11-27 DOI: 10.1109/IPFA.1995.487617 K. T. Yan, L. Forbes
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