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2012 10th IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE) - 最新文献
Surface defect on SiC ohmic contact during thermal annealing
Pub Date : 2012-09-01 DOI: 10.1109/SMELEC.2012.6417249 I. Abdullah, A. Jalar, M. A. Hamid, I. Mansor, B. MajlisAccessing AHB bus using WISHBONE master in SoC design
Pub Date : 2012-09-01 DOI: 10.1109/SMELEC.2012.6417224 M. K. A. Rani, M. KhalidElectrical properties of ZnO/TiO2 nanocomposite film deposited by simultaneous Radio-Frequency Magnetron sputtering
Pub Date : 2012-09-01 DOI: 10.1109/SMELEC.2012.6417096 I. Saurdi, M. H. Mamat, M. H. Abdullah, M. Musa, M. Rusop
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