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PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED MATERIALS: ICAM 2019 - 最新文献
Structural and optical characterization of SILAR deposited CTS thin films for optoelectronic applications
Pub Date : 2019-10-29 DOI: 10.1063/1.5130378 P. Sapna, K. PreethaStudy of sulphur doped TiO2: Structural, morphological, optical and thermal properties
Pub Date : 2019-10-29 DOI: 10.1063/1.5130318 K. Soni, A. Sheikh, N. LakshmiInsulator to metal transition in VO2 M1+B phase on silicon substrate
Pub Date : 2019-10-29 DOI: 10.1063/1.5130313 S. R. Sahu, S. Majid, K. Gautam, R. Choudhary, V. Sathe, D. Shukla
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