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1990 Proceedings. International Conference on Wafer Scale Integration - 最新文献
A self-test methodology for restructurable WSI
Pub Date : 1990-01-23 DOI: 10.1109/ICWSI.1990.63909 D. LandisMultiple fault detection and location in WSI baseline interconnection networks
Pub Date : 1990-01-23 DOI: 10.1109/ICWSI.1990.63895 C. Feng, W. Huang, F. LombardiDistributed diagnosis for wafer scale systems
Pub Date : 1990-01-23 DOI: 10.1109/ICWSI.1990.63900 Yoon-Hwa Choi
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