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2000 GaAs Reliability Workshop. Proceedings (IEEE Cat. No.00TH8513) - 最新文献
Volume and quality impacts on reliability: a new game for GaAs
Pub Date : 2000-11-05 DOI: 10.1109/GAASRW.2000.902426 W. RoeschBreakdown voltage of AlGaAs/InGaAs HEMT submitted to life-tests in impact ionization regime
Pub Date : 2000-11-05 DOI: 10.1109/GAASRW.2000.902416 B. Lambert, N. Malbert, N. Labat, A. Touboul, P. HuguetLocation of defective cells in HBT power amplifier arrays using IR emission microscopy
Pub Date : 2000-11-05 DOI: 10.1109/GAASRW.2000.902429 Peter Dai, P. Canfield
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