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2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's - 最新文献
Analysis of Dynamic Avalanche Phenomenon of PiN Diode Using He Ion Irradiation
Pub Date : 2006-06-04 DOI: 10.1109/ISPSD.2006.1666092 T. Misumi, S. Nakagaki, M. Yamaguchi, K. Sugiyama, F. Hirahara, K. NishiwakiFully integrated driver power supply for insulated gate transistors
Pub Date : 2006-06-04 DOI: 10.1109/ISPSD.2006.1666151 N. Rouger, J. Crebier, R. Mitova, L. Aubard, C. SchaefferThe Optimized Monolithic Fault Protection Circuit for the Soft-shutdown behavior of 600V PT-IGBT by employing a New Blanking Filter
Pub Date : 2006-06-04 DOI: 10.1109/ISPSD.2006.1666103 I. Ji, Young-Hwan Choi, Soo-Seong Kim, Kwang-Hoon Oh, M. Han
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