Measurement

SCI期刊
Measurement
中文名称:
测量
期刊缩写:
MEASUREMENT
影响因子:
5.2
ISSN:
print: 0263-2241
研究领域:
工程技术-工程:综合
h-index:
70
自引率:
12.50%
Gold OA文章占比:
9.63%
原创研究文献占比:
98.48%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
Contributions are invited on novel achievements in all fields of measurement and instrumentation science and technology. Authors are encouraged to submit novel material, whose ultimate goal is an advancement in the state of the art of: measurement and metrology fundamentals, sensors, measurement instruments, measurement and estimation techniques, measurement data processing and fusion algorithms, evaluation procedures and methodologies for plants and industrial processes, performance analysis of systems, processes and algorithms, mathematical models for measurement-oriented purposes, distributed measurement systems in a connected world.
期刊介绍中文:
Measurement诚邀测量仪器科学技术各领域的新成果投稿,鼓励作者提交代表该领域成就的新颖材料,其最终目标是提高最先进的学科,例如:测量和计量基础、测量科学、传感器、测量仪器、测量和估计技术、测量数据处理和融合算法、测量系统性能分析的评估程序、过程和算法、面向测量的数学模型以及互联世界中的分布式测量系统。
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
10.21.1811.633
学科
排名
百分位
大类:Physics and Astronomy
小类:Instrumentation
9 / 141
93%
大类:Engineering
小类:Electrical and Electronic Engineering
92 / 797
88%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
2区 工程技术
2区 工程:综合 ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
2区 仪器仪表 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
WOS期刊分区
学科分类
Q1ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
Q1INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
历年影响因子
2015年1.7420
2016年2.3590
2017年2.2180
2018年2.7910
2019年3.3640
2020年3.9270
2021年5.1310
2022年5.6000
2023年5.2000
历年发表
2012年301
2013年497
2014年562
2015年538
2016年798
2017年586
2018年918
2019年1184
2020年1156
2021年1663
2022年1589
投稿信息
出版周期:
Bimonthly
出版语言:
English
出版国家(地区):
ENGLAND
接受率:
19%
审稿时长:
48 days
发表时长:
8 days
出版商:
Elsevier
编辑部地址:
ELSEVIER SCI LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OXON, OX5 1GB

Measurement - 最新文献

Design and analysis of high-sensitivity hormone sensor with KNN behavior prediction for healthcare and biomedical applications

Pub Date : 2024-11-15 DOI: 10.1016/j.measurement.2024.116172 Jacob Wekalao , Abdullah Baz , Shobhit K. Patel

Study of etched surface topography with the compensation of contactless vibrational measurement errors

Pub Date : 2024-11-15 DOI: 10.1016/j.measurement.2024.116218 Przemysław Podulka , Lucia Knapčíková , Rebeka Tauberová , Matúš Martiček , Enes Sukić

A roadmap to fault diagnosis of industrial machines via machine learning: A brief review

Pub Date : 2024-11-15 DOI: 10.1016/j.measurement.2024.116216 Govind Vashishtha , Sumika Chauhan , Mert Sehri , Radoslaw Zimroz , Patrick Dumond , Rajesh Kumar , Munish Kumar Gupta
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