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2019 IEEE Conference on Modeling of Systems Circuits and Devices (MOS-AK India) - 最新文献
Impact of Via-Inductance on Stability Behavior of Large Gate-Periphery Multi-finger RF Transistors
Pub Date : 2019-02-01 DOI: 10.1109/MOS-AK.2019.8902354 S. A. Ahsan, A. Pampori, Sudip Ghosh, S. Khandelwal, Y. ChauhanPerformance Evaluation of Gate-All-Around Si Nanowire Transistors with SiGe Strain engineering
Pub Date : 2019-02-01 DOI: 10.1109/MOS-AK.2019.8902440 S. Dey, J. Jena, Tara Prasanna Dash, E. Mohapatra, S. Das, C. K. MaitiTheoretical Modeling and Numerical Simulation of Elliptical Capacitive Pressure Microsensor
Pub Date : 2019-02-01 DOI: 10.1109/MOS-AK.2019.8902333 R. B. Mishra, Seshadri Reddy Nagireddy, S. Bhattacharjee, A. Hussain
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