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2010 28th VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
Theoretical analysis for low-power test decompression using test-slice duplication
Pub Date : 2010-05-20 DOI: 10.1109/VTS.2010.5469591 Szu-Pang Mu, M. ChaoScalable and accurate estimation of probabilistic behavior in sequential circuits
Pub Date : 2010-04-19 DOI: 10.1109/VTS.2010.5469586 Chien-Chih Yu, J. HayesBit line coupling memory tests for single-cell fails in SRAMs
Pub Date : 2010-04-19 DOI: 10.1109/VTS.2010.5469624 S. Irobi, Z. Al-Ars, S. Hamdioui
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