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| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 |
|---|---|---|---|
| 0.8 | 0.185 | 0.295 | 学科 排名 百分位 大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering 680 / 797 14% |
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2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures - 最新文献
Demonstration of a Sub-micron Damascene Cu/Low-k Mechanical Sensor to Monitor Stress in BEOL Metallization
Pub Date : 2009-04-14 DOI: 10.1109/ICMTS.2009.4814604 Christopher J. Wilson, K. Croes, Zs. Tokei, Gerald Beyer, A. Horsfall, Anthony O'NeillMeasurement of MOSFET C-V Curve Variation Using CBCM Method
Pub Date : 2009-04-14 DOI: 10.1109/ICMTS.2009.4814615 K. Tsuji, K. Terada, T. Nakamoto, T. Tsunomura, A. NishidaBenefit of Direct Charge Measurement (DCM) on Interconnect Capacitance Measurement
Pub Date : 2009-04-14 DOI: 10.1109/ICMTS.2009.4814644 Yasuhiro Miyake, M. Goto
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