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Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology

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3010

中科院SCI期刊分区 WOS期刊分区历年影响因子历年发表同类期刊

中文名称：

美国国家标准与技术研究院研究杂志

期刊缩写：

J. Res. Nat. Inst. Stand. Technol.

影响因子：

1.5

ISSN：

print: 2165-7254
on-line: 2165-7254

研究领域：

Engineering-General Engineering

h-index：

自引率：

33.30%

Gold OA文章占比：

92.22%

原创研究文献占比：

100.00%

SCI收录类型：

Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore) || Directory of Open Access Journals (DOAJ)

期刊官网：

https://www.nist.gov/nist-research-library/journal-research-nist http://nvl.nist.gov/nvl3.cfm?doc_id=89&s_id=117

期刊介绍英文：

The Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology is the flagship publication of the National Institute of Standards and Technology. It has been published under various titles and forms since 1904, with its roots as Scientific Papers issued as the Bulletin of the Bureau of Standards. In 1928, the Scientific Papers were combined with Technologic Papers, which reported results of investigations of material and methods of testing. This new publication was titled the Bureau of Standards Journal of Research. The Journal of Research of NIST reports NIST research and development in metrology and related fields of physical science, engineering, applied mathematics, statistics, biotechnology, information technology.

发文信息

中科院SCI期刊分区

大类	小类	TOP期刊	综述期刊
4区工程技术	4区仪器仪表 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 4区物理：应用 PHYSICS, APPLIED	否	否

WOS期刊分区

历年影响因子

2017年	0.7290
2018年	1.3400
2019年	0.8980
2020年	1.1050
2021年	1.0340
2022年	1.5000

历年发表

2012年	20
2013年	22
2014年	32
2015年	21
2016年	28
2017年	48
2018年	39
2019年	61
2020年	35
2021年	50
2022年	10

投稿信息

出版语言：

English

出版国家(地区)：

United States

投稿网址：

https://www.nist.gov/nist-research-library/nist-publications

出版商：

National Institute of Standards and Technology

编辑部地址：

INFORMATION SERVICE OFFICE, GAITHERSBURG, USA, MD, 20899

PubMed链接：

http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=2165-7254%5BISSN%5D

Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology - 最新文献

Design Considerations for a Surface Disinfection Device Using Ultraviolet-C Light-Emitting Diodes.

Pub Date : 2022-02-16 DOI: 10.6028/jres.126.045 Pratibha Sharma, Pao Chen, Saya Han, Peter Chung, Jungpin Chen, Justin Tseng, Chang Han

AbsorbanceQ: An App for Generating Absorbance Images from Brightfield Images.

Pub Date : 2022-01-04 DOI: 10.6028/jres.126.039 Stephen M Zimmerman, Carl G Simon, Greta Babakhanova

Broadband Dielectric Spectroscopy as a Potential Label-Free Method to Rapidly Verify Ultraviolet-C Radiation Disinfection.

Pub Date : 2021-08-20 DOI: 10.6028/jres.126.022 Yaw S Obeng, Brian J Nablo, Darwin R Reyes, Dianne L Poster, Michael T Postek

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