查看最新文献
订阅
分享
394发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
IEEE Technical Conference on Southern Tier - 最新文献
SUNNY-RISC: a VLSI RISC micro-architecture
Pub Date : 1990-04-25 DOI: 10.1109/STIER.1990.324641 I. Chen, J. Goshtasbi, S. Hsu, M. Strauss, T. Wang, J. Delgado-FríasAn overview of computer packaging architecture and electrical design
Pub Date : 1990-04-25 DOI: 10.1109/STIER.1990.324651 C. Chang
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
