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17th International Reliability Physics Symposium - 最新文献
The Influence of Plastic Encapsulants and Passivation Layers on the Corrosion of Thin Aluminium Films Subjected to Humidity Stress
Pub Date : 1979-04-24 DOI: 10.1109/IRPS.1979.362878 S. Sim, R. LawsonReliability Aspects of 0.5μm and 1.0μm Gate Low Noise GaAs FETs
Pub Date : 1979-04-24 DOI: 10.1109/IRPS.1979.362884 C. Huang, F. Kwan, S.Y. Wang, P. Galle, J. BarreraOn the Reliability of Power GaAs FETs
Pub Date : 1979-04-24 DOI: 10.1109/IRPS.1979.362885 I. Drukier, J. Silcox
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