Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

SCI期刊
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
中文名称:
电子能谱及相关现象杂志
期刊缩写:
J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom.
影响因子:
1.8
ISSN:
print: 0368-2048
研究领域:
物理-光谱学
创刊年份:
1972年
h-index:
80
自引率:
5.30%
Gold OA文章占比:
27.69%
原创研究文献占比:
100.00%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
The Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena publishes experimental, theoretical and applied work in the field of electron spectroscopy and electronic structure, involving techniques which use high energy photons (>10 eV) or electrons as probes or detected particles in the investigation.
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
3.30.5060.680
学科
排名
百分位
大类:Physics and Astronomy
小类:Radiation
26 / 58
56%
大类:Physics and Astronomy
小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics
116 / 224
48%
大类:Physics and Astronomy
小类:Condensed Matter Physics
227 / 434
47%
大类:Materials Science
小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials
158 / 284
44%
大类:Chemistry
小类:Physical and Theoretical Chemistry
115 / 189
39%
大类:Chemistry
小类:Spectroscopy
49 / 76
36%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
4区 物理与天体物理
3区 光谱学 SPECTROSCOPY
WOS期刊分区
学科分类
Q2SPECTROSCOPY
历年影响因子
2015年1.5610
2016年1.6610
2017年1.6010
2018年1.3430
2019年1.4680
2020年1.9570
2021年1.9930
2022年1.9000
2023年1.8000
历年发表
2012年112
2013年153
2014年162
2015年166
2016年97
2017年96
2018年113
2019年97
2020年79
2021年67
2022年64
投稿信息
出版周期:
Monthly
出版语言:
Multi-Language
出版国家(地区):
NETHERLANDS
接受率:
35%
审稿时长:
60 days
发表时长:
22 days
出版商:
Elsevier
编辑部地址:
ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - 最新文献

Elucidating the structure of amorphous-carbon films containing carbide and non-carbide-forming metals

Pub Date : 2024-11-14 DOI: 10.1016/j.elspec.2024.147500 J.L. Endrino

Atomic data, and ionization cross-sections by electron impact of tungsten ions, W LXV

Pub Date : 2024-11-14 DOI: 10.1016/j.elspec.2024.147499 A.A. El-Maaref , A.E. Elmeshneb , W. Osman

Comparison of soft X-ray spectro-ptychography and scanning transmission X-ray microscopy

Pub Date : 2024-10-01 DOI: 10.1016/j.elspec.2024.147487 Adam P. Hitchcock , Chunyang Zhang , Haytham Eraky , Drew Higgins , Rachid Belkhou , Nicolas Millle , Sufal Swaraj , Stefan Stanescu , Tianxiao Sun , Jian Wang
查看全部
免责声明:
本页显示期刊或杂志信息,仅供参考学习,不是任何期刊杂志官网,不涉及出版事务,特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题,请联系我们,邮箱:info@booksci.cn,我们会认真核实处理。
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信