2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)

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2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) - 最新文献

Pub Date : 2008-04-23 DOI: 10.1109/VDAT.2008.4542422 P. Bastani, N. Callegari, L.-C. Wang, M. Abadir

Pub Date : 2008-04-23 DOI: 10.1109/VDAT.2008.4542408 Ching-Jen Tung, Yao-Hong Liu, Hui-Hsien Liu, Tsung-Hsien Lin

Pub Date : 2008-04-23 DOI: 10.1109/VDAT.2008.4542424 Yu-Lin Hsiao, Chun-Yao Wang, Yung-Chih Chen

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