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2023 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC) - 最新文献
Experimental Analysis of HfO2/X ReRAM devices by the Capacitance Measurements
Pub Date : 2023-07-03 DOI: 10.1109/LAEDC58183.2023.10209123 F. Costa, Aseel Zeinati, R. Trevisoli, D. Misra, R. DoriaImplementation of Step-Hetero-Oxide & Dual Material Gate Designs on Lateral β-Ga2O3 MOSFET for Terahertz Applications
Pub Date : 2023-07-03 DOI: 10.1109/LAEDC58183.2023.10209134 Priyanshi Goyal, H. KaurReal-Time Wheelchair Controller Based on POF-Based Pressure Sensors
Pub Date : 2023-07-03 DOI: 10.1109/LAEDC58183.2023.10209115 A. X. González-Cely, Cristian Felipe Blanco-Díaz, Díaz Camilo A.R., T. Bastos-Filho
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