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2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium (LATS) - 最新文献
Abstractions for Modeling the Effects of Wall Surface Roughness in Silicon Photonic Microring Resonators
Pub Date : 2023-03-21 DOI: 10.1109/LATS58125.2023.10154479 Pratishtha Agnihotri, Lawrence M. Schlitt, P. Kalla, S. BlairSSSN: Secured Streaming Scan Network
Pub Date : 2023-03-21 DOI: 10.1109/LATS58125.2023.10154483 Sonali Shukla, Bhavika Ranjeet Kumar, Virendra SinghLow-cost digital solution for production test of ZigBee transmitters Special Session “AMS-RF testing”
Pub Date : 2023-03-21 DOI: 10.1109/LATS58125.2023.10154484 T. Vayssade, F. Azaïs, L. Latorre, F. Lefèvre
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