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7th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'06) - 最新文献
Delay fault diagnosis for nonrobust test
Pub Date : 2006-03-27 DOI: 10.1109/ISQED.2006.45 V. Mehta, M. Marek-Sadowska, Zhiyuan Wang, Kun-Han Tsai, J. RajskiVariational interconnect delay metrics for statistical timing analysis
Pub Date : 2006-03-27 DOI: 10.1109/ISQED.2006.143 P. Ghanta, S. VrudhulaFast sequential cell noise immunity characterization using meta-stable point of feedback loop
Pub Date : 2006-03-27 DOI: 10.1109/ISQED.2006.67 N. Oh, Li Ding, Alireza Kasnavi
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