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1996 Proceedings. Eighth Annual IEEE International Conference on Innovative Systems in Silicon - 最新文献
Testability and signal integrity in a low cost multichip module
Pub Date : 1996-10-09 DOI: 10.1109/ICISS.1996.552426 A. Omer, A. FlintA wafer-scale MEMS and analog VLSI system for active drag reduction
Pub Date : 1996-10-09 DOI: 10.1109/ICISS.1996.552410 B. Gupta, R. Goodman, F. Jiang, T. Tsao, Y. Tai, S. Tung, Chih-Ming HoA VLSI inner product macrocell
Pub Date : 1996-10-09 DOI: 10.1109/ICISS.1996.552408 L. Breveglieri, L. Dadda
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