IEEE Solid-State Circuits Letters

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WOS期刊分区历年影响因子历年发表同类期刊

影响因子：

2.2

ISSN：

print: 2573-9603

研究领域：

Engineering-Electrical and Electronic Engineering

自引率：

3.70%

Gold OA文章占比：

16.84%

原创研究文献占比：

100.00%

SCI收录类型：

Emerging Sources Citation Index (ESCI) || Scopus (CiteScore)

CiteScore：

CiteScore	SJR	SNIP	CiteScore排名
4.3	0.770	0.919	学科排名百分位大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering 302 / 797 62%

发文信息

WOS期刊分区

学科分类
Q3COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE Q3ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

历年影响因子

2022年	2.7000
2023年	2.2000

历年发表

2018年	102
2019年	119
2020年	147
2021年	66
2022年	52

投稿信息

出版商：

IEEE

PubMed链接：

http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=2573-9603%5BISSN%5D

IEEE Solid-State Circuits Letters - 最新文献

Terahertz Sensing With CMOS-RFIC:Feasibility Verification for Short-Range Imaging Using 300-GHz MIMO Radar

Pub Date : 2024-11-04 DOI: 10.1109/LSSC.2024.3490547 Ichiro Somada;Akihito Hirai;Akinori Taira;Keigo Nakatani;Kazuaki Ishioka;Takuma Nishimura;Koji Yamanaka

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Pub Date : 2024-10-30 DOI: 10.1109/LSSC.2024.3488001 Lei Lei;Zhiming Chen

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