VLSI Design and Test for Systems Dependability

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VLSI Design and Test for Systems Dependability - 最新文献

Wireless Interconnect in Electronic Systems

Pub Date : 2018-07-21 DOI: 10.1007/978-4-431-56594-9_21 T. Kuroda, Atsutake Kosuge

Unknown Threats and Provisions

Pub Date : 2018-07-21 DOI: 10.1007/978-4-431-56594-9_12 N. Kanekawa, T. Miyoshi, M. Fujita, Takeshi Matsumoto, Hiroaki Yoshida, Satoshi Jo, S. Kajihara, S. Ohtake, Masashi Imai, T. Yoneda, H. Takizawa, Ye Gao, Masayuki Sato, Ryusuke Egawa, Hiroaki Kobayashi

Connectivity in Wireless Telecommunications

Pub Date : 2018-07-21 DOI: 10.1007/978-4-431-56594-9_7 K. Tsubouchi, F. Adachi, S. Kameda, M. Motoyoshi, A. Taira, N. Suematsu, T. Takagi, H. Oguma, M. Fujishima, R. Inagaki, M. Tsuru, E. Taniguchi, H. Fukumoto, A. Matsuzawa, M. Miyahara, M. Iwata, F. Yamagata, N. Izuka

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