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2019 3rd International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices (ICREED) - 最新文献
Study on Transient Ionizing Radiation Effect of 40nm SRAM
Pub Date : 2019-05-01 DOI: 10.1109/ICREED49760.2019.9205175 Junlin Li, Wei Chen, Ruibin Li, Guizhen Wang, Shanchao YangThe Time-dependent latch-up defect induced by single-particles in bulk CMOS
Pub Date : 2019-05-01 DOI: 10.1109/ICREED49760.2019.9205171 Yin Wanjun, Liu Yukui, Zhu Yukai, WU XueFiber radiation-induced attenuation sensing design based on geant4 simulation
Pub Date : 2019-05-01 DOI: 10.1109/ICREED49760.2019.9205165 Yang Pengnian, Liang Yuhe, Zhang Jintong
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