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IEEE VLSI Test Symposium - 最新文献
Innovative practices session 7C automotive quality assurance
Pub Date : 2017-04-01 DOI: 10.1109/VTS.2017.7928949 Peter SarsonInnovative practices session 9C DFT and data for diagnostics
Pub Date : 2017-04-01 DOI: 10.1109/VTS.2017.7928954 K. Chung, S. CarloInnovative practices session 3C hardware security
Pub Date : 2017-04-01 DOI: 10.1109/VTS.2017.7928931 Jeyavijayan Rajendran, P. Song, S. Natarajan
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